北京
会议背景
过去两年，半导体行业的需求增长逻辑发生了变化。AI 算力把测试点推到封装级，具身智能把功率器件与传感器的参数密度拉高一个量级。
需求侧在放大，供给侧也在变化。国产设备与国产仪器加速进入产线，晶圆厂和封测厂在扩产的同时，必须回答一个更难的问题：新进来的仪器，凭什么说它是准的？
这就是所有需求最终汇聚的地方：测试与测量数据的可信度。
因为参数测试仪和源表（SMU）不是普通的表，它是产线和实验室的“标尺”。它输出的是判定依据：这颗芯片良还是不良、这批器件能不能交付、这个工艺窗口有没有偏移。标尺一旦漂移，后面所有的良率分析、失效定位、客诉定责，都会失去可靠依据。
现实中，三个问题反复出现：
一是不敢信。 仪器买了几年，校准证书年年有，但微电流档的底噪、源输出的一致性、量程切换的线性度，没人真正验证过；纳安级的漏电测试，环境与夹具的影响往往比仪器本身还大。
二是不会依。 校准依据哪本规范、项目怎么选、不确定度怎么评、结果怎么判，多数工程师靠经验，缺少一套能写进体系文件、经得起 CNAS 评审的方法。
三是来不及。 AI 芯片的迭代节奏从过去的两年一代压缩到一年一代，产线在扩、仪器在进、新器件在导入，计量能力如果还按老节奏走，就会成为出货的隐形瓶颈。
这三个问题，正是这场研讨会要解决的。
10 月 28 日（周三）
14:00 - 15:30
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@腾讯会议
会议简介
本次直播，我们邀请到福禄克计量校准部电学产品经理杨胜利，从测试基础、仪器性能、校准规范讲到实操演示，帮你的实验室把“数据可信”这件事立起来。
为什么建议你现在就来听？
器件在换代，旧的校准方法正在失效。 SiC、GaN、GAA、先进封装带来的新参数与新量程，仅照搬原有流程无法覆盖。
产线在扩，计量体系要先立起来。 设备到位容易，数据可比难。等到客户审核、体系评审时再补，成本高得多。
规范在更新，理解偏差就是风险。 同一份报告，判据不同，结论可能相反。
这场直播你会听到什么——
半导体测试基础知识：从测试链路讲起，把参数测试的底层逻辑补齐；
参数测试仪及源表性能一览：主流仪器的关键指标横向拆解，选型、验收、日常核查都有参照；
相关校准规范解读：现行校准规范逐条讲清适用范围与要点，实验室建体系、过评审直接用得上；
福禄克解决方案探讨及校准实操：不只是讲方案，还有实操演示，看完就知道自己的实验室该怎么做。
演讲嘉宾：杨胜利
福禄克计量校准部电学产品经理
全国电磁计量技术委员会委员
全国无线电计量技术委员会委员
中国计量测试学会电磁专委会委员
中国计量测试学会电子计量专委会委员
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听杨胜利老师把产品一线经验与国家级计量技术委员会的视角结合起来，了解规范背后的“为什么”，把“测得出”变成“测得准、说得清！
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