浙江
扫描隧道显微镜和电子显微镜，差别还挺大的。
从原理上粗略地讲，电子显微镜其实和光学显微镜更相似。光学显微镜是利用光照射样品，收集样品反射回来的光子，通过光学透镜调整光路，最后看到放大的样品。
电子显微镜只不过把光束换成了电子束，把光学电镜换成了电子学透镜。因为电子束的衍射极限比光束小，最后能实现的最小分辨率会更高。不过，电子和样品的作用会更负责一些，会产生反射电子、透射电子、二次电子等。
电镜大致可分为两类，扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）。
扫描电子显微镜拿电子束逐点扫描测试样品，收集反射回来的电子、或激发二次电子、或背散射电子，形成图像。它的成像精度没有透射电镜高，但是表征速度快，对样品几乎没有限制。
透射电镜则使用电子束透过样品，到达样品底部的探测器，形成图像。就好像放电影时，光束透过胶片，在屏幕上成像。TEM的精度要高很多，并且能够获得样品内部信息。
还有一种将两者结合的扫描透射电子显微镜（STEM ）。STEM通过场发射电子枪产生高能电子束，并利用扫描线圈将电子束聚焦至纳米甚至原子尺度，对薄样品逐点扫描。但STEM收集的是电子束穿透样品后，产生透射电子、散射电子及特征X射线等信号。
细菌的SEM（左图）和TEM（右图）图像。SEM显示的是表面上的大量细菌（绿色），而TEM图像则展示了单个细菌的内部结构。https://www.thermofisher.cn/blog/accelerating-science-in-china/tem-vs-sem-whats-the-difference/
扫描隧道显微镜（STM）则是扫描探针显微镜（SPM）的一种。它的工作原理是，当针尖和样品表面靠得很近（纳米或亚纳米级）时，在针尖和样品直接施加电压，由于量子力学中的隧穿效应 ，电子会越过真空能级，形成电流，即隧穿电流。我们通过探测隧穿电流，实现对样品表面的探测。或者更准确地讲，探测到样品表面的电子态密度信息。
类似的还有原子力显微镜（AFM），AFM探测的则是原子之间的作用力，包括Morse势、泡利排斥、范德华力等。因而，相比STM，AFM的应用范围就更广了，它对物体的导电性没有要求，也可以应用于绝缘体。但相比STM，AFM针尖与样品之间的相互作用更加复杂，精确地定量分析和理论模拟也更加困难。
目前常见的AFM主要有悬臂AFM和QPlus AFM两种，它们探测的力的范围不同，设备结构上也有一定的区别。
至于其他相对常见的显微镜，还有光发射电子显微镜 （PEEM）。它更特殊一些，是“光进电子出”的探测手段。使用紫外光照射样品表面，因为光电效应，会发射出电子，收集这些电子进行成像，即实现了PEEM探测。分析PEEM图像，能获得表面形貌、化学状态或磁结构等信息，这里就不展开讲了。
顺便，在PEEM上安装电子能量分析器，进一步探测光电子的能量，就可以对动量空间进行成像（实空间成像和K空间成像可切换）。所以，也可以称呼它为动量显微镜。
要说显微镜有什么共性，想获得实空间的高分辨信息，设备对振动都很敏感。如果场地条件不好，就得设计减震方案。可能也就光学显微镜分辨率一般，对减震没那么讲究。
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